Phenom XL G2 Desktop SEM

仪器名称：	Phenom XL G2 Desktop SEM
产地：	美国
品牌：	Phenom
型号：	Phenom XL G2 Desktop SEM

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功能介绍

Phenom XL G2 Desktop SEM

Desktop SEM 具有更大的电镜室尺寸，适合高达 100 mm x 100 mm 的大样品。

下一代 Thermo Scientific Phenom XL G2 台式扫描电子显微镜 (SEM) 可实现质量控制过程的自动化，提供准确、可重现的结果，同时节省时间以实现增值工作。

采用直观、自动化的解决方案来满足质量标准，无需手动、重复任务：

获得发现故障所需的高质量信息，并在需要时快速调整您的生产流程。
自动化质量控制可以处理大量样品，可以减少人类错误。
易于使用的全新界面，适合各种应用，速度更快。

Phenom XL G2 Desktop SEM 可实现全屏成像和 60 秒平均时间成像。独特的 CeB6 电子源，使用寿命长，维护更少。体积小巧，占用的实验室空间很小，因此您可以将显微镜精确地放置在需要的地方。

Download Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM Datasheet

主要特点

自动化

Phenom XL G2 Desktop SEM 通常可通过 Phenom 编程接口 (PPI) 实现标准访问，这是一种通过 Python 脚本控制 Phenom XL G2 Desktop SEM 的强有力方法。如果用户具有需要重复工作来分析颗粒、孔隙、纤维或较大 SEM 图像的 SEM 工作流程，仪器就可以自动完成。

长使用寿命 CeB₆ 源

长使用寿命 CeB₆ (cerium hexaboride) 源具有几个优点。首先，它提供的高亮度可以与钨相比，使许多用户可以轻松获得高质量图像。第二，放射源的寿命很长，维护间隔长。

Eucentric 样品架

在许多 SEM 应用中，如果样品可以倾斜和旋转，用户可以更深入地了解样品特性。选配 eucentric 样品架可使 eucentric 倾斜和旋转，使研究和分析更快速、更准确。

元素鉴定 (EID)

Phenom XL G2 Desktop SEM 可配备可选能量色散 X 射线光谱 (EDS) 检测器、以通过 X 射线分析获得更多材料见解和元素鉴定。

逐步数据收集

专用软件包元素鉴定软件包 (EID) 用于控制完全集成的 EDS 检测器。EID 软件中直观的分步过程可帮助用户以有组织和结构化的方式收集所有 X 射线结果。

工业生产产品选择器

产品选择器帮助您为您的研究选择最合适的扫描电子显微镜 (SEM) 系统和软件。在几分钟内找到最适合您研究应用的 SEM：

找到您理想的 Desktop SEM

性能数据

电子光学	长寿命的热电子源 (CeB6) 多射束电流
电子光学放大率范围	160 - 200,000x
光学放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
图像分辨率选项	960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素
加速电压	默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高级模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围
真空水平	低 - 中 - 高
检测器	背散射电子检测器（标配）二级电子检测器（可选）能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（可选）
样本尺寸	最大 100 mm x 100 mm（最大 36 x 12 mm 针脚）最大 40 mm (h)
样品加载时间	光学 <5 秒电子光学 <60 秒

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